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無損檢測設備是建立在現(xiàn)代科學技術基礎上的一門技術。它在不損壞被檢測物體內部結構的前提下,應用物理方法,檢測物體內部或表面的結構、狀態(tài)和性能,檢査物質內部是否存在缺陷,從而判斷被檢測物體是否合格,并評價其適用性。它是有別于金相檢測的質量控制方法,金相檢測屬于破壞性檢測,只能用于抽檢,而無損檢測則是在不破壞零部件的情況下發(fā)現(xiàn)裂紋缺陷適合對工件進行全檢的方法。無損檢測是指在不損害或不影響被檢測對象使用性能,不傷害被檢測對象內部組織的前提下,利用材料內部結構異常或缺陷存在引起的熱、聲...
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X射線輻照儀可以直接取代傳統(tǒng)銫和鈷源同位素儀器,在劑量均一性、安全性、穩(wěn)定性、試驗重復性等方面更為優(yōu)秀,已成為生命科學研究領域中的重要科研工具。主要應用于放射性礦床普查及找礦、環(huán)境評價、放射性場所測量、環(huán)境監(jiān)測、進出口商品和運輸物品檢測、核醫(yī)療、同位素應用、輻射及放射性實驗室等需要放射性強度測量的場合。X射線輻照儀夠產生高能X射線,對細胞或小動物進行照射。用于各種基礎研究及應用研究。從歷史,已經使用放射性同位素輻照器,這需要將樣品運輸?shù)揭粋€核心輻照設施。今天,更小,更安全,更...
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挑選X射線探傷機首先考慮的是它的穿透能力、X射線管焦點大小以及被檢工件形狀等等。生產廠家介紹容量決定了穿透能力,X射線愈硬,則能量愈大,其穿透能力也就愈強。X射線探傷機生產廠家介紹被檢驗工件材質密度性質也有關,也就是與被檢驗工件對X射線的衰減能力有關。對于鋼鐵等重金屬以及較厚的工件,由于其對X射線的衰減能力較強,故應選擇管電壓較高的X射線探傷機;而對于鋁、鎂等輕金屬和較薄的工件,可以選擇管電壓較低的X射線探傷機。X射線對人體有害這是毋庸置疑的,那么大部分客戶關心的問題是怎么樣...
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X射線無損探傷的渦流檢測就是運用電磁感應原理,將正弦波電流激勵探頭線圈,當探頭接近金屬表面時,線圈周圍的交變磁場在金屬表面產生感應電流。對于平板金屬,感應電流的流向是以線圈同心的圓形,形似旋渦,稱為渦流。同時X射線無損探傷的渦流也產生相同頻率的磁場,其方向與線圈磁場方向相反。渦流通道的損耗電阻,以及渦流產生的反磁通,又反射到探頭線圈,改變了線圈的電流大小及相位,即改變了線圈的阻抗。因此,探頭在金屬表面移動,遇到缺陷或材質、尺寸等變化時,使得渦流磁場對線圈的反作用不同,引起線圈...
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輪轂X射線檢測是指利用X射線穿透金屬材料,將穿過金屬材料之后的射線強度分布轉變?yōu)殡娨晥D像,從而顯示圖像缺陷,此時射線強度會增強數(shù)千倍,以此觀察工件的透視圖像,據(jù)此來判斷材料內部缺陷情況的一種檢驗方法。X射線能在無損檢驗技術中得到廣泛應用的主要原因是:它能穿透可見光不能穿透的物質;它在物質中具有衰減作用和衰減規(guī)律;它能對某些物質發(fā)生光化學作用,而且這些作用都將隨著X射線強度的增加而增加。輪轂X射線檢測是利用材料厚度不同對X射線強度分布程度的差異,通過用工業(yè)電視實時成像,從成像上...
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X射線晶體定向儀利用X射線衍射原理,精密快速地測定天然和人造單晶(壓電晶體、光學晶體、激光晶體、半導體晶體)的切割角度,與切割機配備可用于上述晶體的定向切割,是精密加工制造晶體器件*的儀器。該儀器廣泛應用于晶體材料的研究、加工、制造行業(yè)。X射線晶體定向儀涉及的是半導體加工技術設備,特別是用于對晶體晶向測定的裝置背景技術X射線晶體定向儀是一種利用X射線衍射原理來測定晶體的晶面取向。現(xiàn)有X射線晶體定向儀包括有機臺、在機臺內裝有高壓變壓器裝置和控制器裝置、在機臺上端設置安裝有X射線...
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X射線衍射儀的主要應用領域包括科研、化工、半導體和環(huán)境等。不斷增長的改善材料特性、提高生產效率的需求,將帶動市場投資。近年來,便攜和在線X射線衍射儀的應用逐漸增加;這主要是因為該設備可以在生產車間現(xiàn)場應用,并且操作簡單、方便使用。X射線衍射儀是利用衍射原理,測定物質的晶體結構,織構及應力,的進行物相分析,定性分析,定量分析。廣泛應用于冶金,石油,化工,科研,航空航天,教學,材料生產等領域。X射線衍射儀使用中常見的問題及注意事項:1、過濾時有時會出現(xiàn)流動相漏液。可能的原因是濾膜...
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X射線無損探傷是利用X射線可以穿透物質和在物質中具有衰減的特性,發(fā)現(xiàn)缺陷的一種無損檢測方法。X射線的波長很短一般為0.001~0.1nm。X射線以光速直線傳播,不受電場和磁場的影響,可穿透物質,在穿透過程中有衰減,能使膠片感光。當X射線穿透物質時,由于射線與物質的相互作用,將產生一系列極為復雜的物理過程,其結果使射線被吸收和散射而失去一部分能量,強度相應減弱,這種現(xiàn)象稱之為射線的衰減。X射線無損探傷的實質是根據(jù)被檢驗工件與其內部缺陷介質對射線能量衰減程度不同,而引起射線透過工...
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